TOC仪器在使用过程中出现重现性差，标准曲线线性不良，跟气路气密性有直接关系，而导致气密性不良的原因之一就有TC/IC进样组件密封圈损坏，这样需正确更换。

除数据不良外，往往伴随着出峰异常。

进样组件密封圈包括两种：

上面的白色O型圈：特氟龙P10，PN 638-15025

下面的黑色O型圈：4DP10A，PN 036-11209-84

白色密封圈顶部为弧形，底部为平面更换时需弧形在上，平面在下，切勿用镊子上下夹住白色密封圈进行更换，这可能会导致密封圈有压痕，导致再次漏气。

更换完成后，请确认进样滑块与进样管的相对位置，正确如下图：

进样管的末端绝不可伸出滑块底部。伸出的进样管会划伤O型圈或其他密封部件，从而导致气体泄漏。一定要将进样管的末端延伸至滑块底部的凹陷处，这样才能正确进样。