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　　分析测试百科网讯 2019年10月15日，2019年全国电子显微学学术年会前夕，TESCAN隆重发布了新一代超高分辨率镓离子FIB-SEM——TESCAN AMBER。中国科学院院士、浙江大学学术委员会主任张泽教授出席本次发布会，分析测试百科网作为合作媒体为您带来此次发布会的精彩内容。

发布会现场

　　发布会现场群贤毕至，国内众多电镜领域专家、学者纷纷参与。

TESCAN 孟方礼主持发布会

　　TESCAN（中国）总经理冯骏首先为大家带来“聚焦TESCAN客户，创新服务内容，提升服务品质——TESCAN中国发展战略”的内容讲述。

TESCAN（中国）总经理 冯骏

　　冯骏说到，2014年在广西南宁举办的全国电镜年会给他了深刻印象。在这次年会上，TESCAN意识到了中国用户对当前电镜行业内售后服务现状充满了忧虑，通过此次事件，TESCAN抓住了发展机遇，经过深入思考用户的需求，TESCAN定制了聚焦TESCAN客户，创新服务内容，提升服务品质的发展战略。通过围绕TESCAN中国用户，调整了维修工程师管理制度，加强了用户应用支持，增加零备件储备，增加电话回访售后现场服务以及建立了FIB-SEM 和场发射电镜用户群。通过这些举措，增加了用户和厂家的互动，最终TESCAN的产品和服务受到了业内专家的好评！

TESCAN（中国）产品经理 Ondřej Nezhyba

　　TESCAN（中国）产品经理Ondřej Nezhyba以“Background， Current Business and Pruduct Overview”为题，为大家介绍了TESCAN当前的电镜产品情况。Ondřej Nezhyba说到，TESCAN 成立于1991年，总部位于捷克布尔诺市，其前身是世界电子光学设备制造公司TESLA，拥有超过60年电子显微镜的研发制造历史。TESLA的电镜技术发展和设计理念来源于大学的科研团队，作为继承者，TESCAN也延续了这一理念。目前，TESCAN全球拥有17家分公司，产品涉及SEMs、FIB-SEMs和X-ray micro CT。

　　作为今年最新发布的TESCAN CLARA，她是在S8000基础上进一步研发的新一代FE-SEM产品。TESCAN CLARA是真正灵活的分析平台，能够得到就有极好衬度的图像。得益于具有电子信号过滤功能的先进探测系统和可变真空环境的系统设计，无论样品是否导电、有无磁性、有机无机，CLARA都能提供理想的图像。

　　作为今天揭幕的产品，TESCAN AMBER是一款超高分辨率的FIB-SEM系统。它集成了BrightBeam^™ SEM镜筒、Orage 型Ga FIB镜筒、OptiGIS气体注入系统等多项创新设计，在高分辨能力、原位应用扩展能力和分析系扩展能力方面达到了业内顶级水平。

　　最后Ondřej Nezhyba说到，本次大会上TESCAN将联合祺跃科技公司现场演示高温、高压样品拉伸台和观测系统。

浙江大学 张泽教授

　　中国科学院院士、浙江大学张泽教授作为特邀嘉宾，为大家讲述了对中国电镜事业发展的一些见解。张泽说到，中国早在1958年就开始了TEM的研究，但在此后的几十年内错失了多次发展的良机。TESCAN虽然起步较晚，但它并没有浪费机遇，逐渐发展成国际电镜界不可忽视的力量。而TESCAN总部所在城市也已在三十年间成为全球电镜生产、研发基地。

　　电镜事业的发展离不开合作，尤其是科研单位与电镜生产企业的合作，结合良好的国际环境，可以极大的促进这个事业的发展。同时，行业竞争也是促进行业发展的必要因素，没有竞争就没有发展的动力。学科间的交叉对于一项技术的发展也至关重要。张泽表示，在当前科学技术间高度融合和发展的前提下，机会是很多的。合作、竞争、交叉为今后的成功奠定了很好的机会。最后，张泽建议到，各科研院所可以利用自身优势，从电镜的部件入手，与国际电镜巨头合作，打造出自身特色产品。

　　发布会最后，TESCAN（中国）总经理冯骏与张泽院士共同为大家揭晓了今天发布的新产品——TESCAN AMBER。

TESCAN（中国）总经理冯骏与张泽院士共同为TESCAN AMBER揭幕

TESCAN AMBER

与会者聆听TESCAN AMBER的介绍

　　至此，TESCAN AMBER新品发布会正式结束。

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