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北京精微高博高性能比表面及孔径分析仪获“2010科学仪器优秀新产品”奖

　　2011年4月26日，由中国仪器仪表行业协会、中国仪器仪表学会分析仪器分会、仪器信息网联合主办，中国分析测试协会协办的中国科学仪器行业峰会——“2011中国科学仪器发展年会(ACCSI 2011) ” 在北京京仪大酒店隆重召开。会议主办方在大会现场对“2010中国科学仪器优秀新产品”举行了隆重的颁奖仪式。由北京精微高博科学技术有限公司自行研制开发的"高性能比表面及孔径分析仪"获物性测试和光学仪器类“2010科学仪器优秀新产品”奖，充分显示精微高博的理论研究和仪器制造水平达到了国内领先水平，JW系列高性能比表面及孔径分析仪得到国内权威机构的普遍认可。