来源：分析测试百科网

　　作物生长状况受很多因素的影响，比如作物种子质量、土壤环境、大气环境、农民种植技术等等，有些是人为可以控制的，而有些是人们无法左右的，经过植物学家研究得出，作物冠层与作物生长状况有着重要的关系，研究作物冠层，能够研究光能对植物生长的促进作用，而这些都离不开作物冠层分析仪，作物冠层分析仪主要用于分析植物的冠层状况，在使用作物冠层分析仪时除了要避免阳光直射，这三点也一定要注意：

　　1.要注意叶片与传感器的距离

　　作物冠层分析仪是利用传感器来进行测量的，因此测量的过程中，要注意叶片与传感器的距离，因为太近也会导致测量的误差。因此要明确叶片与传感器的距离限制，如果距离无法缩小，可以考虑增加重复次数来解决这个问题。

　　2.注意斜坡的影响

　　在测量的过程中，有些测量对象是在斜坡上的，因此此时就需要注意了，对于斜坡测量，使用作物冠层分析仪的时候，应该尽量使传感器保持与斜坡相匹配，而不是实际的水平。

　　 3.注意样地尺寸的影响

　　 由于在测量的过程中，要保证传感器的视野范围是冠层高度的3倍，因此这就对样地的尺寸有要求，如果尺寸太小，势必会影响测定结果，但是如果实在是无法解决样地尺寸太小的问题，那么可以采用观察帽的方法。