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传统的光学显微镜在高倍率成像往往受制自身的景深问题，往往不能完整地体现视场中的全部信息，离焦信号会严重影响成像质量。激光共聚焦显微镜利用共聚焦结果滤去了离焦光的影响，将各个焦平面的信息合成，能很好的克服景深的问题，合成高质量的图像，从而提高了光学显微镜在高倍率成像下的可用度。

前文提到了现今触控屏膜层愈加复杂，而它所能做到的对透明膜层的光学切片功能可以只通过光学的非接触式扫描而不去破坏样品就获知各膜层的信息，这无疑对触控屏的研发与检测有着巨大的帮助。

同时对于溅镀了消影层的ITO玻璃，借助自身的激光光源成像，能观察到可见光无法观察到的ITO形貌，能快速地定位出ITO线路的微米级的缺陷。故在触控屏领域，就光学成像的能力而言，激光共聚焦扫描显微镜相较传统的光学显微镜有较大的优势。