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多层层状样品的化学成像

 多层聚合物薄膜对保持产品的完整性起着非常重要的作用。例如，食品、药品、消费品等产品在交付时需要采用聚合物薄膜包装。这些薄膜对防止产品遭受氧化、紫外线照射或其他环境因素（取决于产品种类）的影响起到至关重要的作用。聚合物薄膜的设计和制造过程往往非常复杂、昂贵，且影响着实际产品的质量和感观。

 因此，研究层压结构需要借助强大的分析技术，比如产品出现缺陷时，傅立叶变换红外光（FT-IR）显微分析法可检测层压结构的化学图像，揭示每层的化学组成。

采用焦平面阵列（FPA）探测器技术的 HYPERION 3000 FT-IR 显微镜，可在几秒钟内同时测量上千个光谱。此外，HYPERION 3000 还具备最大空间分辨率，为分析厚度只有区区几微米的薄层创造了条件。

 在利用FT-IR显微镜进行多层层压材料分析时，需要按照要求制备样品，将样品切成薄片，或采用可能导致样品变形的ATR技术。与之相反，共焦拉曼显微镜 SENTERRA II 可以在不接触样品的情况下，对每层的剖面进行测量，甚至还可以直接从顶部进行纵深分析，从而立刻完成多层薄膜分析，无需制备样品