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在X射线计算断层(CT)成像领域,多种应用需要准确的X射线能谱信息,包括双能谱CT图像重建、CT图像硬化校正、CT图像的定量分析等。然而,由于CT系统中X光机发出的射线流强很大,X射线源的能谱一般难以利用X射线光谱仪直接测量,更为常用的方法是利用不同厚度特定模体的透射数据,对X射线能谱进行间接估计。该类方法将谱估计问题归结为一组病态线性方程组的求解问题。通常,为了获得较为准确的X射线能谱,需要测量