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硅酸盐类矿物是主要的造岩矿物，是火成岩、沉积岩、变质岩的主要组分，是工业生产的重要原材料。在地质工作和工业生产中，为了了解岩石内部组分的含量变化，元素在地壳内的迁移情况和变化规律、元素的集中和分散、岩浆的来源及可能出现的矿物，为解决矿体岩相分带、阐明岩石的成因、岩石矿物定名的确定和工业生产的合理有效综合利用，经常要进行样品组分全分析。传统的化学分析方法，操作过程繁琐、分析周期长、劳动强度较大、分析结果受分析人员及各种试剂因素影响较大。X荧光光谱法具有制样简便、分析速度快、重现性好、多元素组份同时分析和低成本等优点，被广泛应用在硅酸盐岩石分析中。以往X荧光采用粉末压片的方法辅助化学法进行分析、检测，由于粉末压片的方法在分析时不可避免的存在着一定的粒度效应和矿物效应的影响，因此对所得结果的精度影响较大。而采用熔融制样的方法，利用X射线荧光光谱仪进行分析，不但可以消除压片法存在的粒度效应，而且基本消除了矿物效应对分析结果的影响，并且在制样的过程中，所需试剂较少，成本较低，流程简单、分析速度快，大大的解放了劳动力，并且分析结果可以与化学法分析结果媲美。本文以Li₂B₄O₇和LiBO₂（质量比67:33）作混合熔剂，加入LiNO₃为氧化剂，LiBr为脱膜剂，熔融制作玻璃熔片，利用日本理学Primus Ⅱ型X射线荧光光谱分析仪，对硅酸盐主要成分SiO₂、Al₂O₃、TFe₂O₃、MgO、CaO、Na₂O、K₂O、MnO、TiO₂、P₂O₅含量进行同时分析，得到了较满意的分析结果。大量的实验数据表明，利用日本理学Primus Ⅱ型X射线荧光光谱分析仪，对硅酸盐主要成分含量进行同时分析是可行的。