来源：分析测试百科网

　　一. 光谱干扰

　　 1. 在测定波长附近有单色器不能分离的待测元素的邻近线 ——减小狭缝宽度

　　 2. 灯内有单色器不能分离的非待测元素的辐射 ——高纯元素灯

　　 3. 待测元素分析线可能与共存元素吸收线十分接近——另选分析线或化学分离

　　二. 电离干扰

　　待测元素在高温原子化过程中因电离作用而引起基态原子数减少的干扰（主要存在于火焰原子化中）

　　电离作用大小与：

　　 ①待测元素电离电位大小有关——一般：电离电位< 6 eV ， 易发生电离

　　 ②火焰温度有关——火焰温度越高↑，越易发生电离↑

　　 消除方法： ⑴ 加入大量消电离剂，如 NaCl、KCl、CsCl 等；

　　 ⑵控制原子化温度。