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　　 分析测试百科网讯 2016年9月23日-26日，由中国仪器仪表学会原子光谱专业委员会主办，武汉大学化学与分子科学学院承办的第四届全国原子光谱及相关技术学术会议在武汉大学召开。会议期间，安捷伦科技举办午餐研讨会，向参会代表介绍安捷伦的原子光谱新产品及最新应用。

安捷伦科技应用分析市场部经理 祝立群

安捷伦科技 原子光谱应用工程师 谢科

　　安捷伦科技的原子光谱应用工程师谢科带来《新一代垂直火炬双向观测 灵敏度与速率的领导者》的精彩报告。

　　Agilent 5110 ICP-OES采用专利技术的智能光谱组合技术（DSC），实现了同步的垂直双向观测分析（SVDV）。5110 ICP-OES集同步双向观测VDV模式、垂直模式、水平模式、传统的双观测模式于一体，能同时兼顾速度与进度。其光路具备计算机设计优化中阶梯光栅光学系统设计，单入射狭缝，单VistaChip II CCD检测器，光学系统无移动部件，400mm焦距，恒温+35℃，中阶梯光栅及CaF2棱镜交叉色散，光路系统驱气全质量流量控制（氩气或氮气）等特点。5110 ICP-OES采用了ICPMS的气体控制设计保证长期稳定性，配置的软硬件支持切换阀能进行定性半定量诊断。

安捷伦科技光谱应用经理 宋娟娥

　　安捷伦科技光谱应用经理宋娟娥带来《精准无忧，清扫一切干扰——Agilent新一代ICP-MS/MS》，报告回顾了Agilent 8800 ICP-MS/MS，介绍新一代ICP-MS/MS及新产品的单纳米粒子分析优势。

　　Agilent新一代ICP-MS/MS即8900 ICP-MS/MS具备全新的超耐高盐进样系统，稀释范围扩展至100倍，接口的基质负荷量更低长期稳定性更好，雾室维持高载气流量，气体置换和清洗更快。8900 ICP-MS/MS配备了全新的氩气EPC-气体过滤器，软件增加氩气预吹扫功能。8900 ICP-MS/MS反应池模式下可以分析最困难元素如SiO2、TiO2、sNP等，在最佳S/N条件下可分析SiO2、sNP，最小驻留时间0.1ms和最高灵敏度可测定最小粒径的Au和Ag等sNP，功能强大的专业版sNP软件提高了sNP的分析能力。

安捷伦科技午餐研讨会上积极提问的参会代表

安捷伦科技展台