来源：分析测试百科网

　　4月27日至28日，中国科学院条件保障与财务局组织专家对中科院长春光机所应用光学国家重点实验室吴一辉研究员承担的“双增益阿达玛弱光光谱分析仪的研制”项目进行了现场技术测试和验收。

　　项目组针对传统光栅光谱仪普遍存在高分辨率和高光通量间的矛盾，提出二维阿达玛变换阵列狭缝和光谱反演方法，实现了分辨率和灵敏度双增益；提出反卷积、分段光谱定标等高精度光谱解码技术等；研制出宽光谱范围、高分辨率、高光通量、高信噪比阿达玛光谱仪和具有批量化制作工艺技术的硅狭缝阵列芯片。该双增益阿达玛弱光光谱分析仪，相对孔径f/5.6，像元光谱分辨率0.036nm，波长准确度±0.10nm，波长重复性0.05nm。相比国外同类仪器，如HORIBA公司、Princeton仪器等，国内北京卓立汉光，天津港东等，该设备的信噪比、波长准确度、光谱重复性几个性能指标优于国内外同类产品，可有望填补国内弱光光谱分析仪研制领域的空白。

　　该光谱仪有望为生物样品高灵敏度、高分辨率无标检测谱分析提供更有力的工具，并可广泛用于光电子、能源、化工、新材料和环境保护等领域。

项目验收会现场