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HORIBA推出X荧光连续在线金属监测系统
发布时间:2015-05-29]  阅读次数:415次

来源:分析测试百科网

  分析测试百科网讯 堀场(英国)宣布其新的连续的颗粒物金属监测系统PX-375。

  堀场称,近年来,关于颗粒物和其元素组成及其对人类健康的影响日益关注。堀场制作所开发的PX-375可以监测PM2.5、PM10和总悬浮颗粒物。在PX-375还可以测量颗粒物的元素组成。PX-375使用了β射线和X射线荧光两种技术,并可通过网络远程操作。堀场为该系统设计了两层非织造PTFE过滤带和CMOS集成摄像。其使用的X射线荧光检测器无需真空泵和液氮制冷,因而降低了运行成本。

PX-375颗粒物金属监测系统


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