11月1～3日，业界最高级别的 “CCATM’2012国际冶金及材料分析测试学术报告会及展览会”在北京国家会议中心隆重召开 。超过600位的与会者就光谱分析、化学分析、气体分析、状态/相分析、材料组织结构分析测试与物性分析、力学测试以及无损检测、材料外观质量检测及在线分析等技术的最新进展与未来发展动向进行了深入交流。

    岛津公司以专业团队参加了此次展会。会议展区着重展示了UFMS系列样机GCMS，LCMS；展区展板重点宣传了AA-7000，ICP，EPMA，MXF，PDA等多款光谱仪器。岛津多名技术人员与与会者就岛津出展的仪器性能特点及相关分析测试技术等问题展开了多层次的探讨。

在本次国际冶金及材料分析测试学术会议上，岛津分析中心共提交“电感耦合等离子体发射光谱法测定高纯铜中的杂质元素”等6篇高水准论文，这些论文发表在《冶金分析》刊物上。

    岛津广州分析中心光谱应用工程师刘舟先生，代表岛津公司在大会上发表了《电感耦合等离子体发射光谱测定镍铬生铁中镍铬磷含量》，详细介绍了岛津ICP的性能特点，并对镍铬生铁中镍、铬、磷含量实验的分析进行了深入讲解。该技术报告非常贴近与会代表日常测试的需求，大家互相交流讨论收益颇多。

岛津应用工程师刘舟先生做会议报告

    通过参加本次大会，岛津上海分析中心进一步明确了今后工作的重点，力图充分发挥岛津分析技术的优势，为新材料领域开发更为先进、更为贴近中国用户实际需求的整体解决方案。

 

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